区分	种类	形状	检测中心距离和检测范围	分辨率	光束直径	型号	激光等级
小型·超高精度	小光点型		10±1mm	0.25μm	约φ20μm	HL-C201AE	CLASS1
	线性光点型				约20×700μm	HL-C201AE-MK
超高精度	小光点型		30±5mm	0.25μm	约φ30μm	HL-C203BE	CLASS2
	线性光点型				约30×1200μm	HL-C203BE-MK
中距离·高精度	小光点型		110±15mm	0.25μm	约φ80μm	HL-C211BE	CLASS2
						HL-C211CE	CLASS3R
	线性光点型				约80×1700μm	HL-C211BE-MK	CLASS2
						HL-C211CE-MK	CLASS3R
长距离·高精度	小光点型		350±50mm	0.5μm	约φ250μm	HL-C235BE	CLASS2
						HL-C235CE	CLASS3R
	线性光点型				约250×3500μm	HL-C235BE-MK	CLASS2
						HL-C235CE-MK	CLASS3R

可根据工件和用途，从10mm的超高精度型到350mm的长距离型中选择最适用产品。
HL-C2系列

规格

	种类	小光点型		线性光点型		小光点型		线性光点型
项目	型号	HL-C235BE		HL-C235BE-MK		HL-C235CE		HL-C235CE-MK
设置模式		扩散反射时	正反射时	扩散反射时	正反射时	扩散反射时	正反射时	扩散反射时	正反射时
检测中心距离		350mm	348mm	350mm	348mm	350mm	348mm	350mm	348mm
检测范围( 注2 )		±50mm	±42mm	±50mm	±42mm	±50mm	±42mm	±50mm	±42mm
分辨率(平均次数)(注3)		2.0μm [256次] 0.5μm [4096次]
线性度( 注4 )		±0.03% F.S.
温度特性		0.01% F.S./ ℃
光源		红色半导体激光级别2(JIS/IEC) 最大输出1mW、投光波峰波长658nm				红色半导体激光级别2(JIS/IEC) 最大输出5mW、投光波峰波长658nm
光束直径( 注5)		约φ250μm		约250×3500μm		约φ250μm		约250×3500μm
受光元件		线性图像传感器

(注1)：未指定时的检测条件如下：连接控制器、电源电压：24V DC、周围温度=+20℃、取样周期40μs、平均次数256次、检测中心距离、由白陶瓷制成的检测物体、数字测定值。
(注2)：取样周期为20μs及10μs时的检测范围如下表所示。

型号		HL-C235□-MK
设置模式		扩散反射时	正反射时
取样周期	20μs	0~+50mm	0~+42mm
	10μs	+36~+50mm	+36~+42mm

(注3)通过将P-P值换算成距离得到这些值。P-P值表示通过检测中心距离测定值的分布。
(注4)此值表示采用本公司的标准检测物体进行检测时，相对于数字变位输出的理想直线的误差。此值会根据检测对象的特征而改变。
(注5) 这是检测中心距离上的值。以中心光强度的1/e2(约13.5%)定义这些值。如果定义区域外有光泄漏，并且检测点周围有高于检测点本身的强反射，检测结果可能会受到影响。